X-4显微熔点仪（数显）
产品简介
详细信息
X-4 显微熔点仪（数显）测定物质的熔点。用于药物、化工、纺织、染料等晶体有机化合物之测定，显微镜观察。既可用毛细管法测定，又可用载玻片-盖玻片法（热台法）测定。
主要技术参数
| 熔点测量范围 | 室温至320℃ |
| 测量重复性 | ±1℃（在≤200℃时）±2℃（在200～300℃时） |
| 光学放大倍数 | 目镜10X；物境4X |
X-4 显微熔点仪（数显）测定物质的熔点。用于药物、化工、纺织、染料等晶体有机化合物之测定，显微镜观察。既可用毛细管法测定，又可用载玻片-盖玻片法（热台法）测定。
主要技术参数
| 熔点测量范围 | 室温至320℃ |
| 测量重复性 | ±1℃（在≤200℃时）±2℃（在200～300℃时） |
| 光学放大倍数 | 目镜10X；物境4X |