CMI95M Oxford膜厚仪CMI95M铜箔测厚仪
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Oxford膜厚仪CMI95M铜箔测厚仪
Oxford膜厚仪CMI95M铜箔测厚仪由深圳市方源仪器有限公司总代理销售产品，英国牛津仪器总代理深圳市方源仪器有限公司提供范围内的支持和服务网络。和我们的所有产品一样，铜箔膜厚仪在售前和售后都能够得到我们优质服务的保证。
 | 产品特性： CE认证； 低电量警告； 耐久性强，使用方便 ； 一秒之内测量铜箔厚度 ； 工厂调校，不需要标准片 ； 现有的能测量全范围铜箔厚度的经济实用的便携式测厚仪 ； 消除高废料和返工造成的浪费——快速精确地识别特定铜箔厚度 ； 消除板材的磨损——新的CM95有一个*的软探针防止铜表面被擦伤或损毁； |
| Oxford膜厚仪CMI95M铜箔测厚仪 技术参数： 范围：Oz/Ft2 1/8 1/4 3/8 1/2 1 2 3 4 μm 5 9 12 17 35 70 105 140 尺寸：(W) 2.6” (66 mm) (D) 1.25” (32 mm) (H) 4.1” (104 mm) 重量：125 g（4.4oz) 电池：9 volt (伏) 产地：美国 品牌：英国牛津仪器Oxford | |
注意：
Oxford膜厚仪CMI95M铜箔测厚仪由工厂调校，不需要任何标准片。它使用方便，只需将产品的软探针放到铜箔的表面就可以看到关于铜箔厚度的指示。
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