iEDX-100T镀层测厚仪
产品简介
详细信息
技术指标
多镀层分析，1～5层；
测试精度：0.001 μm；
元素分析范围从铝(Al)到铀(U)；
测量时间：10~30秒；
SDD探测器，能量分辨率为125±5eV；
探测器Be窗0.5mil（12.7μm）；
微焦X射线管50kV/1mA，钼，铑靶（高配微焦钼靶）；
6个准直器及多个滤光片自动切换；
高清CCD摄像头（200万像素），准确监控位置；
多变量非线性去卷积曲线拟合；
高性能FP/MLSQ分析；
仪器尺寸：450×520×385mm。
图谱界面
软件支持无标样分析；
宽大分析平台和样品腔；
集成了镀层分析界面和合金成份分析界面；
采用多种光谱拟合分析处理技术；
镀层测厚分析可达到0.001μm。
分析报告结果
直接打印分析报告；
报告可转换为PDF，EXCEL格式。