X射线荧光测厚仪
产品简介
详细信息
推荐品牌
德国马尔、日立
原理
其采用高能X射线轰击样品表面,被测样品表面产生二次X射线(X光荧光),由于X光荧光谱线为各种元素所*,通过对X光荧光谱线的收集和分析,以其波长确定所测元素,根据其光的强度和能量可以确定镀层的厚度。
应用
测量镀层厚度
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德国马尔、日立
原理
其采用高能X射线轰击样品表面,被测样品表面产生二次X射线(X光荧光),由于X光荧光谱线为各种元素所*,通过对X光荧光谱线的收集和分析,以其波长确定所测元素,根据其光的强度和能量可以确定镀层的厚度。
应用
测量镀层厚度