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仪器仪表物性测试仪器测厚仪

MiniTest7400涂层测厚仪

供应商：
武汉上材科技有限公司
企业类型：
其他

产品简介

德国EPK(Elektrophysik)公司全新的MiniTest7400高精度涂层测厚仪特点- 高精度涂层测厚仪- 所有金属基材上的非破坏性测量- 多种图形显示选项- 菜单控制界面，更强的数据和配置管理- 用于简易配置评估和数据设置报告的PC软件- 测量厚度高达35mm的各种耐磨探头- SIDSP®技术提升**度和重现性

详细信息

主机
技术参数MiniTest7400
数据记忆组数 500
存储数据量 约250000个读数
统计值(每批组) 读数个数，*大值，*小值，平均值，标准偏差，变异系数，组统计值(标准设置/自由配置)，过程能力指数CP和CPK，直方图，趋势图
校准程序符合国际标准和规范 ISO，SSPC，瑞典标准，澳大利亚标准
校准模式 *多5点校准，使用者可调节补偿值
极限值监控 声音、视觉报警提示超过极限值
测量单位 μm，mm，cm，mils，inch，thou
操作/存放温度 -10℃~60℃/-20℃~70℃
数据接口 IrDA®1.0红外接口，可选USB和RS232适配器
电源 4节AA(LR06型)电池，或可选外接电源(90－240V～/48－62Hz)
规范和标准 160x160像素LCD带背光
显示 153mmx89mm32mm
尺寸
重量 310g；(主机包括电池)

探头参数
标准探头 HD探头 量程 低端
分辨率 		误差 重复性
(标准偏差) 		*小曲率
半径
(凸/凹) 		*小测量
区域直径(无测量标准)

*小测量
区域直径(有测量标准)

*小基
体厚度
F05 F05HD 0~0.5mm 0.02μm ±(1μm±0.75%) ±(0.5μm±0.5%) 1/7.5mm 14mm 5mm 0.3mm
F1.5 F1.5HD 0~1.5mm 0.05μm ±(1μm±0.75%) ±(0.5μm±0.5%) 1/7.5mm 14mm 5mm 0.3mm
F1.5-90 0~1.5mm 0.05μm ±(1μm±0.75%) ±(0.5μm±0.5%) 平面/5mm 10mm 5mm 0.3mm
F2HD 0~2mm 0.1μm ±(1.5μm±0.75%) ±(0.8μm±0.5%) 1.5/10mm 14mm - 0.5mm
F5 F5HD 0~5mm 0.1μm ±(1.5μm±0.75%) ±(0.8μm±0.5%) 1.5/10mm 14mm 10mm 0.5mm
F15 0-15mm 1μm ±(5μm±0.75%) ±(2.5μm±0.5%) 5/25mm 25mm 25mm 1.0mm
F35 0-35mm 5μm ±(20μm±0.75%) ±(10μm±0.5%) 50/50mm 100mm - 1.5mm
N0.2 N0.2HD 0~0.7mm 0.02μm ±(1μm±0.75%) ±(0.5μm±0.5%) 1/7.5mm 14mm 5mm 40μm
N0.7 N0.7HD 0~0.7mm 0.05μm ±(1μm±0.75%) ±(0.5μm±0.5%) 1/7.5mm 14mm 5mm 40μm
N0.7-90 0~0.7mm 0.05μm ±(1μm±0.75%) ±(0.5μm±0.5%) 平面/5mm 10mm 5mm 40μm
N2.5 N2.5HD 0~2.5mm 0.1μm ±(1.5μm±0.75%) ±(0.8μm±0.5%) 1.5/10mm 14mm 10mm 40μm
N7 0~2.5mm 1μm ±(5μm±0.75%) ±(0.8μm±0.5%) 15/25mm 23mm 20mm 40μm
FN1.5
 FN1.5HD F：0~1.5mm
N：0~0.7mm 		0.05μm ±(1μm±0.75%) ±(0.5μm±0.5%) 1/7.5mm 14mm 5mm F：0.3mm
N：40μm
FN1.5-90 F：0~1.5mm
N：0~0.7mm 		0.05μm ±(1μm±0.75%) ±(0.5μm±0.5%) 平面/5mm 10mm 5mm F：0.3mm
N：40μm
FN5 FN5HD F：0~5mm
N：0~2.5mm 		0.1μm ±(1.5μm±0.75%) ±(0.8μm±0.5%) 1.5/10mm 14mm 10mm F：0.5mm
N：40μm
注：HD探头是针对于油漆或粉尘污染等恶劣环境设计的坚固探头，F2HD特别适用于粗糙表面。