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半导体高低温冲击试验箱冲提篮式箱子也是一款用于做温度破坏型的实验专用设备。此设备满足的实验方法：GB/T2423.1.2、GB/T10592-2008、GJB150.3高低温冲击实验。实验用低温冲击箱|实验用高低温冲击试验箱根据实验需求及测试标准分为三箱式和两箱式，区别在于实验方式和内部结构不同。三箱式分为蓄冷室，蓄热室和实验室，产品在测试时是放置在实验室。两箱式分为高温室和低温室，是通过电机带动提篮运动来实现高低温的切换，产品放在提篮里，是随提篮一起移动的。可选择如下：

实验箱冲击温度：6.1.内容积50L

6.2.内箱尺寸400 *350 *350mm (W* H *D)

6.3.外型尺寸(约)1350*1900*1650mm (W* H *D)

6.4.重 量约900㎏

七、性能指标

7.1.测试环境条件机器周围环境温度维持在+25~+30℃之间，相对湿度：≤85%；气压：86kPa～106kPa正常大气压力。

7.2.满足标准 .GB/T2423.1-2008 低温试验方法Test method of low tempemture test

·GB/T2423.2-2008 高温试验方法Test method of high temperature test

·GB/T2423.22-2012 温度变化试验Test of temperature chantge

·GJB150.5-86温度冲击试验Test of temperature shock

·GJB360.7-87温度冲击试验Test of temperature shock

·GJB367.2-87温度冲击试验Test of temperature shock

·QC/T17-92、EIA364-32、IEC68-2-14等

7.3.测试室温度范围：-40℃～+150 ℃ (风冷式)

7.4.高温室

7.4.1.预热温度范围RT～+165℃

7.4.2.升温时间

+50℃→+165℃ ≤30min

注：升温时间为高温室单独运转时的性能

7.5.低温室

7.5.1.预冷温度范围RT～-55℃

7.5.2.降温时间+20℃ → -55℃≤约60min

注：降温时间为低温室单独运转时的性能

7.6.试验室（试样区）

7.6.1.半导体高低温冲击试验箱试验方式采用之蓄热、蓄冷结构，强制冷热风路切换方式导入测试区，冲击时高温区或低温区的温度冲入测试区进行冲击,完成冷热温度冲击测试。

7.6.2.温度波动度±0.5℃

7.6.3.温度偏差±2.0℃

7.6.5.温度恢复时间≤5min；转换温度只需要≤10s（风门开启时间：3秒以内）

爱佩科技 led温度冲击实验箱内箱材质：优质SUS304不锈钢，具有良好的耐蚀性、耐热性，低温强度和机械特性；冲压、弯曲等热加工性好，无热处理硬化现象（无磁性，使用温度-196℃～800℃）

外箱材质：特殊防锈处理之钢板喷塑或SUS 304#纹路处理之不锈钢.

保温层：聚氨酯泡沫（保温材料)，（它的优势分别是：

1.高效节能，填充后无缝隙，固化后粘结强固。

2.防震抗压，固化后不开裂，不腐化，不脱落。

3.具有超低温热传导率，耐候保温。

4.高效绝缘，隔音，固化后防水防潮。

5.防水性能好，因为泡沫孔是封闭的，封闭率达95% ,雨水不会从孔间渗过去。）

底座：国标角铁 国标槽钢.

标准配置：测试孔(￠50x1只), 试料架(2组) .