SOL型VIS-SWIR 成像探测器测试系统
产品简介
详细信息
产品介绍：
从设计的角度看，SOL测试系统是一种能够进行光谱带宽阶跃调节、光强连续调节的标定光源，对被测成像探测器和图像处理系统进行照射，进而分析被测成像探测器（摄像机芯）产生的图像。阶跃光谱滤波是用一组窄带滤波片来实现的。光源可在VIS-SWIR范围内（400-2500nm或更窄的波段）产生16个不同光谱波段的光。
产品参数：
一般参数 | |
温度范围（工作/储存） | +5ºC到+35ºC / -5ºC到+55ºC |
尺寸 | 119x40x24cm |
重量 | 29.2kg |