显微光谱测量系统 MicroTEQ-S1
产品简介
详细信息
MicroTEQ-S1显微光谱测量系统，集成荧光、拉曼和反射光谱测量功能。通过把光谱模块集成到显微镜上，实现显微荧光、拉曼和其他光谱信息的测量。系统由光谱仪、激光器、光源、显微镜等部分构成，自由灵活，帮助用户快速对样品微观结构，微观光谱信息的测试和分析；此外系统可以加装二维电控扫描台，通过软件控制，实现光谱二维扫面测量功能。
应用范围
- 微流控；
- 植物叶片研究；
- 激光材料评价；
- 生物和细胞测试；
- 光子晶体测试；
- 珠宝、古籍检测;
纳米材料分析；
拉曼模式
拉曼探头可直接插入显微光谱测试模块中，从而快速实现拉曼光谱测量。支持光谱范围覆盖400-1100nm，仅需通过更换探头和激光器，便可实现488nm、532nm、633nm、785nm激发波长的拉曼光谱测量。
搭配便携式拉曼光谱仪
显微光谱测试模块也能够适配ACCUMAN SR 系列科研级便携拉曼，即插即用的工作模式让您不仅可以实现便携的拉曼光谱测量，还可以更方便地在实验室内实现显微拉曼光谱分析。
其他模式
- 荧光测量：显微光谱测量模块内部集成了荧光测试光路，通过SMA905光纤接口与荧光激光器和荧光光谱仪连接。其中连接激光器的SMA905接头，可以改装成为自由空间光作为输入光源，从而得到更强的激发功率或更好的光斑质量。模块中带滤光片插槽，可以放置适配不同激发波长的激发滤光片和发射滤光片，实现不同激发波长的显微荧光测量。
颜色和反射测量：使用光纤把钨灯光源和显微光谱测量模块连接起来，共用荧光光路，即可实现显微反射光谱测量和显微颜色测量功能。
二维Mapping：选配二维电动平台，使用操作软件设置面扫描采样， 获取一定范围内的逐点扫描光谱数据，可用于表征材料表面微观结构和光谱成像。同时测试结果还可以通过图像绘制的方式呈现出来。
光谱仪配置 拉曼 拉曼 荧光 光谱仪 QEPRO@532nm QEPRO@785nm QEPRO-FL 光谱范围 150-4200cm-1@532nm 150-2000cm-1@785nm 300-1050nm 分辨率 ~10cm-1@5um狭缝 ~6cm-1@5um狭缝 1.5nm@5um狭缝 信噪比 1000:1 A/D 18位 探测器 背照减薄型面阵CCD 杂散光 0.08%@600nm 线性度 >99% 动态范围 85000:1 暗噪声 6RMS@18位 积分时间 8ms-60mins 激光器 LASER-532 LASER-785 LASER-405 LASER-450 激光波长 532nm 785nm 405+/-2nm 450+/-2nm 激光功率 0-300mW可调 0-500mW可调 0-200mW可调 0-200mW可调 线宽 <> <> 2nm 2nm 寿命 10000h 10000h 10000h 10000h 拉曼探头 RPB-532 RPB-785 OD值 OD>6 OD>6 焦距 7.5mm 7.5mm 激光输入端光纤 100um 光谱收集端光纤 200um 显微光谱测量模块 Micro-S1 光谱范围：400-1100nm 显微镜 4组平场消色差物镜：5X,10X,20X,50X 5X，数值孔径：0.15，工作距离：10.8mm 10X，数值孔径：0.3，工作距离：10mm 20X，数值孔径：0.45，工作距离：4mm 50X，数值孔径：0.55，工作距离：7.9mm 100X，数值孔径：0.8，工作距离：4mm（非标配，可选） 1/2”CMOS彩色CCD，2048*1536（300万像素） 载物台面积175mm×145mm，移动范围：76mm×42mm 二维电控平移台（可选配） 一体式二维电控平移台，含控制器； 行程：50mmx50mm； 重复定位精度：2um； 移动分辨率：1um； * 产品图片仅供参考，具体以实际配置为准