法国Phasics--高分辨率波前分析仪/波前传感器/剪切干涉仪
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法国Phasics--高分辨率波前分析仪/波前传感器/剪切干涉仪
法国PHASICS公司自主研发的波前传感器、波前分析仪、波前探测器是基于四波横向剪切干涉技术。SID4系列波前分析仪相较传统的夏克-哈特曼波前探测器具有高分辨率、消色差、高灵敏度、高动态检测范围、操作简便等的优势。为波前像差、波前畸变的检测以及激光光束及波前的测量、分析，眼科虹膜定位波前像差引导等提供了全新的解决方案！
法国PHASICS公司自主研发的波前传感器、波前分析仪、波前探测器是基于四波横向剪切干涉技术，对哈特曼掩模技术进行了大的升级、改进。PHASICS波前传感器将400X300的超高分辨率和500um的超大动态范围结合在了一起。可以满足不同的客户的应用需求，可对激光光束进行光强、位相、PSF（点扩散函数）、MTF（调制传递函数）、OTF（光学传递函数）、波前像差、M²等进行实时、简便、快速的测量。
PHASICS波前传感器、波前分析仪、波前探测器--技术优势：
高分辨率的相位图，分辨率可达400ｘ300。
具有直接测量高发散光束的能力
消色差，匹配CCD整个探测范围，用于不同波长光而无需额外校准。
PHASICS波前传感器、波前分析仪、波前探测器--应用方向：
激光束质量分析
自适应光学
光学元件表面测量
生物成像
热成像，等离子体表面物理
法国PHASICS波前传感器、波前分析仪、波前探测器主要型号相关参数：
SID4 UV HR | SID4 Visible | SID4 Visible HR | SID4 NIR | SID4 SWIR | SID4 IR MCT | SID4 DWIR | SID4 LWIR | |
波长 | 190 – 400 nm | 400 – 1100 nm | 400 – 1100 nm | 1,5 – 1,6 µm | 0,4 – 1,7 µm | 1,2 – 5,5 µm | 3 – 5 µm and | 8 – 14 µm |
孔径 | 8.0 × 8.0 mm² | 3.6 × 4.8 mm² | 8.9 × 11.8 mm² | 3.6 × 4.8 mm² | 9.6 × 7.68 mm² | 9.60 x 7.68 mm² | 10.08 ×8.16mm² | 16 x 12 mm² |
空间分辨率 | 32 µm | 29,6 µm | 29,6 µm | 29,6 µm | 60 µm | 60 µm | 68 µm | 100 µm |
采样点 | 250 x 250 | 160 x 120 | 300 x 400 | 160 x 120 | 160 x 128 | 160 x 128 | 160 x 120 | 160 x 120 |
精度 (精度) | 10 nm RMS | 10 nm RMS | 15 nm RMS | 15 nm RMS | 15 nm RMS | 75 nm RMS | 75 nm RMS | 75 nm RMS |
分辨率（灵敏度） | 0,5 nm RMS | < 2 nm RMS | < 2 nm RMS | < 11 nm RMS | < 2 nm RMS | < 3 nm RMS | 25 nm RMS | 25 nm RMS |
动态范围 | > 200 µm | > 100 µm | > 500 µm | > 100 µm | > 100 µm | 300 µm | > 100 µm | > 100 µm |
采样频率 | 30 fps | > 100 fps | > 30 fps | 60 fps | 120 fps | 140 fps | > 50 fps | 40 fps |
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