HORIBA DUETTA荧光-吸收光谱仪
Duetta可作为荧光光谱仪使用,也可以作为UV-Vis-NIR光谱仪测量吸光度,或用于测量真正的分子指纹,这需要同步获取荧光和吸光度,同时进行内滤效应校正
Duetta 可作为荧光光谱仪使用,也可以作为UV-Vis-NIR 光谱仪测量吸光度,或用于测量真正的分子指纹,这需要同步获取荧光和吸光度,同时进行内滤效应校正。同步吸收- 荧光光谱仪Duetta 标配超快******的CCD 技术,让它在采集速度的数倍, Duetta 标配超快******的CCD 技术,让它在采集速度的数倍优于任何使用PMT 的荧光光谱仪。Duetta 是******一款能在100 毫秒内获得250nm-1100nm 校正光谱信息的一体式荧光光谱仪。这一******的CCD 技术也将近红外检测光谱范围扩展到1100 nm,远超过标准PMT 荧光仪的光谱范围 - UV-Vis-NIR 荧光检测波长范围250 nm-1100 nm
- 一秒内获取三维荧光全谱
- 超高荧光灵敏度,水拉曼RMS 6000:1
- 自动校准主次内滤效应
- 的A-TEEM TM 指纹荧光技术,高保真识别分子指纹
- CCD 检测器实现毫秒内完成整个荧光光谱采集
Duetta 的两个独立检测器,可同时采集荧光和透射光路的吸光度数据 实时內滤效应校正的荧光光谱 技术指标