植物冠层高光谱成像测量服务
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SOC710植物冠层高光谱成像系统
植物冠层光高光谱成像系统反映植物冠层尺度高光谱信息，可反映整个冠层的成分分布、生长状况、冠层结构等综合信息，是高光谱遥感方法探测植物冠层信息的有效手段。通过高光谱技术对冠层光谱信息进行获取和分析，具有简单、快速、直观、精度高和无损测定等优越性，成为获取灌木、果树、玉米、高粱等植物高光谱图像的重要手段，在植物长势监测、营养诊断、精准施肥管理、产量估测、以及病害监测等方面都有很好的应用前景。SOC710植物冠层高光谱成像系统采用内置式推扫技术，提前预览植物冠层区域大小，可一键式快速获取植物冠层高光谱数据立方体，后期软件可提供数据标定与数据处理功能。
| 400-1000nm 1392*1040面阵 内置平移推扫 双CCD可预览 自动暗电流 自动曝光时间 高度自由调节 高度机动性 |
※ 内置式扫描，图像无畸变，自动扣除暗电流
※ 不仅可获取目标反射率，还可获取辐亮度值
※ 可自动连续测量，监测目标光谱动态变化
※ 软件自带数据标定、高光谱分类等多种功能
※ 电动控制测量角度，测量高度可任意调节
※ 可通过USB或无线遥控（配置微型电脑）测量
※ 可提供多种植被指数求取软件并与卫星数据比对
※ 野外移动测量，机动灵活，使用多种测量需求
产地：美国