XTU-4C X射线镀层测厚仪
产品简介
详细信息
| XTU-4C X射线镀层测厚仪性能优势 | |
下照式设计 | 快速方便的定位各种形状的样品，满足一切测试所需。 |
无损变焦检测 | 拥有手动变焦功能，可对各种异形凹槽件进行无损检测，凹槽深度范围0-90mm。 |
微聚焦射线装置 | 可测试各微小的部件，zui小检测面积可达0.002mm²。 |
高效率的接收器 | 在检测0.01mm²以下的样品时，几秒钟也可达到稳定性。 |
精密微型滑轨 | 精密的手动移动平台，快速精准定位所需检测的样品。 |
EFP算法软件 | 可检测单镀层，多镀层，多元合金，甚至对于同种元素在不同层的厚度检测也能分析，包括轻金属镀层，非金属镀层，达克罗，Nip镀层测试，包括Ni与P的比例也均可检测。 |
准直器和滤光片 | 多种准直器和滤光片电动切换，满足各种测试方式的应用。 |
新一代高压电源和X光管 | 性能稳定可靠，高达50W的功率实现更高的测试效率。 |
高效的散热系统 | 对流通风过滤式风冷，仪器即便全天候开启，都可保持恒温恒效。 |
防护装置 | 恒压恒流快门式光闸，拥有高压电源紧急自锁功能，带给您的防护。 |
XTU-4C X射线镀层测厚仪仪器规格
外形尺寸 | 550mm*480mm*470mm（长*宽*高） |
样品仓尺寸 | 500mm*360mm*215mm（长*宽*高） |
仪器重量 | 45KG |
供电电源 | 交流220±5V |
Zui大功率 | 330W |
环境温度 | 15℃-30℃ |
环境相对湿度 | ≤70% |
XTU-4C X射线镀层测厚仪技术参数
测量元素范围 | CI(17)-U(92) |
涂镀层分析范围 | 各种元素及有机物 |
分析软件 | EFP，可同时分析23层镀层，24种元素，不同层有相同元素和有机物厚度也可分析 |
测试程式添加 | 1862条测试程式免费提供，也可编辑新程式 |
软件操作 | 人性化封闭软件，自动提示校正和步骤，避免操作错误 |
X射线装置 | 升压发射一体高分子聚合式W靶微聚焦加强型射线管 |
接收器 | 日本东芝正比计数管，窗口面积≥150mm² |
射线准直系统 | 垂直光路交换装置搭配黄金准直器 |
视频观测光路系统 | 垂直光路交换装置搭载100mm变焦镜头 |
测样读取开启方式 | 恒压恒流快门式光闸 |
滤光片 | 铝、无、镍 |
准直器 | ø0.05mm；ø0.1mm；ø0.2mm；ø0.5mm；四准直器自动切换 |
Zui近测距光斑扩散度 | 10% |
Zui小测量面积 | 约0.002mm² |
测量距离 | 具有距离补偿功能，可改变测量距离，能测量凹凸异形样品，变焦距离0-30mm（特殊要求可以升级到90mm） |
样品观察 | 1/2.5彩色CCD，全局快门，有效像素：1280*960，变焦功能 |
对焦方式 | 高敏感镜头（无需增加其他辅助传感器），手动对焦 |
放大倍数 | 光学38-46X，数字放大40-200倍 |
样品台尺寸 | 500mm*360mm |
样品可放置区域 | 480mm*320mm*205mm（C型开槽设计，特殊测试时可以超出区域放置样品） |
外部尺寸 | 540mm*430mm*475mm |
移动方式 | 高精密XY手动滑轨 |
可移动范围 | 40mm*50mm |
电气参数 | 电源：交流220V 50HZ 功耗：zui大120W（不包括计算机） |
冷却系统 | 对流通道过滤式风冷 |
保养升级模块 | 软硬件模块化 |
环境要求 | 使用时温度：10℃-40℃ 存储和运输时温度：0℃-50℃ 空气相对湿度：≤80% |
重量 | 约45KG |
随机标准片 | 十二元素片、Ni/Fe、Au/Ni/Cu |
其他附件 | 电脑一套、喷墨打印机、附件箱 |