飞行时间二次离子质谱仪（TOF-SIMS）
产品简介
详细信息
应用领域：适用于有机、无机、生物、医学、电子、地质/考古、环境等领域的各种固体材料的分析。
性能特点：
1. 优异的掺杂剂和杂质检测灵敏度，可以检测到ppm或更低的浓度；
2. 深度剖析具有良好的检测限制和深度辨析率；
3. 小面积分析（10 µm 或更大）；
4. 检测包含H在内的元素及同位素；优良的动态范围（6 orders of magnitude）
应用领域：适用于有机、无机、生物、医学、电子、地质/考古、环境等领域的各种固体材料的分析。
性能特点：
1. 优异的掺杂剂和杂质检测灵敏度，可以检测到ppm或更低的浓度；
2. 深度剖析具有良好的检测限制和深度辨析率；
3. 小面积分析（10 µm 或更大）；
4. 检测包含H在内的元素及同位素；优良的动态范围（6 orders of magnitude）