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X射线荧光（XRF）分析技术以一定能量的光子、电子、质子、α粒子或其他重离子的射线照射样品，从样品原子中激发出特征X射线，通过对特征X射线的探测实现对样品的定性定量分析。XRF分析方法制样简单，测量快速，适合于固体样品中主、次、痕量多元素同时测定，检出限在μg/g量级内，可直接用于原位和现场在线分析，在地质、材料、环境、冶金、考古和太空探索等领域占有重要地位。

 性能特点

XRF分析方法简单，测量快速，适合于固体样品中主、次、痕量多元素同时测定，检出限在μg/g量级内，可直接用于原位和现场在线分析，在地质、材料、环境、冶金、考古和太空探索等领域占有重要地位。

应用领域

    ◆地质勘探

    ◆环境调查

    ◆材料科学

    ◆生命科学

    ◆历史考古

    ◆工业过程控制

    ◆固废资源回收

原理：

利用原级X射线光子或其他微观粒子激发待分析样品中的原子，使之产生X荧光（次级X射线）通过测量这些X荧光的能量（或波长）和强度来分析样品中元素成分的种类和含量。