X射线荧光测厚仪

X射线荧光测厚仪

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2022-09-09 09:44:07
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浙江信标仪器有限公司

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产品简介

推荐品牌德国马尔、日立原理其采用高能X射线轰击样品表面,被测样品表面产生二次X射线(X光荧光),由于X光荧光谱线为各种元素所*,通过对X光荧光谱线的收集和分析,以其波长确定所测元素,根据其光的强度和能量可以确定镀层的厚度

详细介绍

推荐品牌

德国马尔、日立

原理

其采用高能X射线轰击样品表面,被测样品表面产生二次X射线(X光荧光),由于X光荧光谱线为各种元素所*,通过对X光荧光谱线的收集和分析,以其波长确定所测元素,根据其光的强度和能量可以确定镀层的厚度。

应用

测量镀层厚度

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