温度冲击试验箱用途：

温度冲击试验箱不需要使用液态气体(LN2或LCO2)辅助降温，待测物静止测试方式是当前电子部品测试、研究、以及半导体生产线大量适用，可大量节省耗材测试费用，操作快捷、高信赖度，是本公司经多年研究开发的高性能试验机，为客户提供长期可靠的测试工具。

温度冲击试验箱执行与满足标准：

GB10592-89高低温箱技术条件；

《GB2423.1-89电工电子产品基本环境试验规程》：低温试验方法；

《GB2423.2-89电工电子产品基本环境试验规程》：高温试验方法；

温度冲击试验箱特点：

1) 试料槽静止，可由测试孔处加负载配线；

2) 蓄热方式可避免职业伤害(注：液态气体所产生发气，吸入肺部致使肺部氧气量减少，而产生倦怠，集中力降低)；

3) 采用触控式彩色液晶显示人机界面控制器，操作简单、学习容易；

4) 温度控制精度高，全部采用PID自动演算控制；

5) 可选择始动位置，高温或低温开始循环；

6) 具有预约起动功能；

7) 可设定循环次数及自动除霜；

8) 可选择二槽式或三槽冲击；

9) 有异常或故障显示及排除方法说明。

温度冲击试验箱技术参数：

型 号：RTS

4880100150252360480

控制系统平衡调温控制系统（BTC），以P.I.D.方式控制SSR

温度范围高度室：60℃～200℃

预热时间约20分钟

低温室A：－55℃～10℃

B：－70℃～10℃

C：－80℃～10℃

预热时间A：20℃～－55℃约60分钟

B：20℃～－70℃约75分钟

C：20℃～－80℃约90分钟

试验室A：－40℃～150℃

B：－55℃～150℃

C：－65℃～150℃

恢复时间高温暴露30分钟

低温暴露30分钟

5分钟以内

温度波动度：±1.0℃

温度偏差≤±2.0℃

内箱尺寸（W×H×Dcm）40×40×3250×40×4055×45×4060×50×5070×60×6080×75×6080×80×75

外箱尺寸（W×H×Dcm）139×176×121149×176×131154×181×131159×186×141190×190×197200×215×250 200×226×254

内箱材质SUS304不锈钢板

外箱材质SUS304不锈钢板或钢板静电喷涂表面处理

保温材质高密度聚胺酯泡沫及玻璃纤维

冷冻系统气冷式（可选择水冷式）

单段/复叠式，半密式压缩机，环保冷媒（R404a+R23)

控制器：TEMP880S 5.7英寸LCD彩色触摸屏，中/英文显示

保护装置：无熔丝开关、压缩机超压、过热、过电流保护、超温保护、风机超载保护、保险丝、干燥保护器、干热保护

标准配件：ф50mm测试孔1个、试样架2套、指示灯、电源线2米、移动工作轮4个、通讯界面

使用环境：5℃～35℃、≤85%RH

电源功率：AC380±10% 50HZ 三相四线+保护地线

注：

1.以上数据均在环境温度（QT）25℃，工作室无负载条件下测得；

2.可根据用户的具体要求定做非标型高低温、低温试验室。