一、用途与特点：

　   CST-50冲击试样缺口夏比投影仪是专用于检查夏比V型和U型冲击试样缺口加工质量的专用光学仪器。
　　利用光学投影方法将被测的冲击试样V或U型缺口标准样板图比对，以确定被检测的冲击试样缺口加工是否合格，操作简便，检查对比直观、效率高，是目前切实可行、并能保证检查质量的方法，是相关理化试验室的仪器。

     我们根据目前国内广大用户的实际需求和GB/T229-2007《金属夏比摆锤冲击试验方法》中冲击试样缺口的要求而设计、开发的一种专用于检查夏比V型和U型冲击试样缺口加工质量的专用光学仪器，该仪器是利用光学投影方法将被测的冲击试样V或U型缺口轮廓放大投射到投影屏上，与投影屏上冲击试样V和U型缺口标准样板图比对，以确定被检测的冲击试样缺口加工是否合格，其优点是操作简便，检查对比直观，效率高。

二、主要技术参数：

1. 放大倍数：50×；
2. 投影屏尺寸：ф200mm;
3. 工作台位移：纵向±10mm，横向±10mm，升降±12mm(无刻度)；
4. 工作台转动范围：0～360о（无刻度）；
5. 光源：卤钨灯12V 100W;
6. 电源：200V 50HZ 150W;
7. 外形尺寸：515×224×603mm;
8. 重量： 约18kg。