X荧光光谱仪
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东莞市中皓试验设备有限公司
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高精密定位测量系统,用于RoHS检测和镀层检测。在镀层检测中,该款仪器可以惊奇地逐点测试被测对象,并给出完整的含量和镀层的平面分析图谱。
一、技术指标: 分析精度: 0.05% 分析含量范围:1PPM-99.99% 测量元素:从硫至铀等75种元素 测量对象:粉末、固体、液体 分析电镀溶液中金属离子浓度 可分析10层以上的镀层 测试镀层*薄至0.005um 步进*小距离:0.01mm 测量时间:60~300秒 工作温度:15~30°C 相对湿度:< 70% 重量:30KG 工作电压:AC 110/220V
二、配 置: 单样品腔计 算机、喷墨打印机 硅针半导体探测器 放大电路 高低压电源 X光管 双 50至100倍物体放大
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