SOC710CR高光谱文物成像系统

目前文物鉴定的传统方法中很多是有损或微损的，需取样才能分析；而且，有损测试的分析结果只局限于测试点或取样点，而不能代表未测试部位的信息。高光谱成像技术能同时提供待测物整体的图像和光谱信息，可以对目标物进行高光谱识别和分类；其具有快速测量、能进行精细分类与识别等优点，且对文物无损伤，在文物分析领域具有广阔的应用前景。

SOC710CR高光谱文物成像系统具有的内置推扫技术、双CCD可预览、一键式测量等特点，可提供实验室暗箱、实验室平台及显微测量等多种操作模式。后期光谱提取与特征提取等技术可上满足用户的需求，在文物保护、修复、真伪识别等方面具有重要作用。

※ 快速无损获取高光谱图像信息，数据真实可靠

※ 双CCD设计，直接预览测量区域，所见即所得

※ 内置式扫描，图像无畸变，自动扣除暗电流

※ 不仅可获取目标反射率，还可获取辐亮度值

※ 可自动连续测量，监测目标光谱动态变化

※ 软件自带数据标定、高光谱分类等多种功能

※ 软件实时分析，光谱提取、光谱分类与结果输出

※ 可满足暗箱系统-室内实验台-显微镜等多种使用条件

SOC710CR高光谱文物成像系统应用案例：

产地：美国