SOC-210 BDR 高精度BRDF测量仪

SOC-210 BDR 高精度BRDF测量仪

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具体成交价以合同协议为准
2024-01-24 14:48:27
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产品简介

SOC-200是一款高精度科研级BRDF测量系统,可以从可见到中红外波谱范围内全自动测量样品的BRDF,实现光学表面、油漆、涂层、液体和颗粒等双向反射分布函数(BRDF)制图

详细介绍

 

img1

 

SOC-20是一款高精度科研BRDF测量系统,可以从可见到中红外波谱范围内全自动测量样品BRDF,实现光学表面、油漆、涂层、液体和颗粒等双向反射分布函数BRDF)制图BRDF 数据可以提供研究材料光学性能所必须的方向反射信息,如表面能量散射的方向和强度

主要特点:

光谱范围0.35~14μm(基于检测器选项)img2

测量本底噪声<10-3sr-1

可水平装置粉末和液体样品进行测量

重复性本底噪声的5

全自动测量四个角坐标 (Θ and Φ入射及反射角)

集成电控单元,用于快速处理、显示和存储数据

自动带通滤光轮,一次性测量十二种多光谱通道

支持斯特林循环冷却的MCTInSb检测器无人值守地全自动数据采集自动切换标样样品测量

测量指标:

全半球双向反射分布函数BRDFimg3

     非偏振BRDF

     线性偏振BRDF

双向透射分布函数BTDF

应用领域:

航空工业

国防

航天

行星探测

涂层领域

光学材料质量控制

技术参数:

   

   

测量项目

BRDFBTDF

光谱范围

0.35~14μm

角度范围

Incident polar: Theta i Θi = 0° to 85°

Incident azimuthal: Phi i Φi = 0° to 350°

Reflected polar: Theta r Θr = 0° to 85°

Reflected azimuthal: Phi r Φr = 0° to 360°

角度精度

0.1°

光谱滤波

标准商业化1英寸薄膜带通滤光片

自动化

ΘiΦiΘrΦr,光源孔径,滤光轮和样/X

光源

Quartz halogen lamp, and silicon carbide glower

检测器

Si, InGaAs, dual InSb/MCT

本底噪声

<10-3sr-1

样品尺寸

1英寸圆片、粉末、液体

运行

PC控制,全自动测量

尺寸

53W x 53D x 75H

产地:美国

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