JXI-R1220电子标签全性能测试系统

聚星超高频RFID电子标签全性能测试系统基于PXI矢量射频模块和FPGA基带模块，集成了自主研发的RFID测试软件，具有内建的RFID协议栈，能够实时发射并采集RFID通讯的射频信号，进行完整的性能参数的测试与分析 参考价面议

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