ARL QUANT'X EDXRF 光谱仪提供元素分析的极限性能、多用途和可靠性。其紧凑的台式设计、紧密耦合光学器件以及*的电子冷却检测器，让我们能够在从 ppm 到百分比元素浓度的**动态范围内获得无以伦比的分析精确度。

性能特点

ARL QUANT’X EDXRF 的功能变得更加强大！除了 Peltier 冷却 Si(Li) 检测器，现在该仪器还安装了厚 1mm、面积 30mm2 的 SDD – SDD1000。SDD 能够以出色的分辨率处理高计数率，而且通常比 Si(Li) 检测器薄得多。常见厚度为 0.45mm，更高能量下的检测效率较差。ARL QUANT’X 中的新型 SDD1000 的厚度增加一倍以上，达到 1mm。与基于 Si(Li) 的 ARL QUANT’X 相比，SDD1000 版本在周期表中表现出更好的灵敏度，检测极限增加到原来的 2 倍，还适用于 Cd 和 Sn 等重金属元素。另外，计数时间还可以减少为原来的 1/4！新型 SDD1000 结合了 SDD 和 Si(Li) 检测器的优点。

*的技术

Peltier Si(Li) 冷却检测器 或者 1mm 厚的硅漂移检测器 (SDD)。
数字脉冲处理 (DPP) 技术。
高性能、多元素分析。
选配的 Thermo Scientific™ UniQuant™ 软件可提供**的无标样分析。
主要特点

**的痕量分析灵敏度。
高测量吞吐量，适合过程控制。
*的非典型材料分析算法。
出色的样品处理灵活性。
机械简单性和可靠性。
紧凑、占地面积小，便于运输，适合现场测量。
快速、简单的安装，**的现场定制化。
包含完整的实验室启动包。
可进行空气、真空和氦气中的样品分析。
经过验证的硬件和一体化的软件。
现场协作式方法开发。
**的技术应用支持。
成百上千种应用的专业知识。
大样品室、摄像机以及各种范围的准直器。
功能强大、简单易用的 Thermo Scientific™ WinTrace™ 软件

无标样和半无标样分析。
含标准样品的基本参数 (FP) 和经验方法。
多层厚度和成分。
无限制的元素，无限制的标准品数量。
多种激发条件，带自动化操作。
选配的 UniQuant *无标样分析

比任何其他 FP 分析更进一步，可选的 UniQuant 程序收集从氟到铀的所有可能元素发出的所有谱线。这种完整的样品光谱曲线让 UniQuant 能够自动校正所有可能的重叠和背景效应。这些效应在能量色散光谱中尤为复杂。
始终可以分析所有元素。
每份样品的物理特性，例如面积、厚度和质量均纳入计算。
校正 X 射线管输出的长期变化。
多种多样的可选报告级别和格式，可以为任何类型的用户清楚地呈现结果。
UniQuant 在出厂时经过**预先校准，可开箱即用。
应用领域

ARL Quant’X 荧光能谱仪具有**的应用如:ROHS-WEEE电子废弃物中重元素分析,各种合金及贵金属成分分析,环境污染气溶胶的测度, 考古文物保护,刑侦痕量分析,营养品分析,磁性介质和半导体的薄膜渡层厚度分析,各种油品中成分分析,纳米至微米镀层厚度测量,土壤,催化剂,矿石,原材料等.用于材料的无损分析可选择液氮致冷或电致冷Si(Li) 探测器 从氟至铀的多元素分析测定的浓度范围一般可以从ppm级至99% 。