离子研磨仪 IM4000II

离子研磨仪 IM4000II 参考价面议

牛津仪器X-MaxTEM大面积硅漂移探测器

牛津仪器X-MaxTEM大面积硅漂移探测器 参考价面议

超高分辨场发射扫描电子显微镜 SU8600系列

超高分辨场发射扫描电子显微镜 SU8600系列 参考价面议

超高分辨肖特基场发射扫描电子显微镜SU8700

超高分辨肖特基场发射扫描电子显微镜SU8700 参考价面议

离子研磨仪 ArBlade 50002

离子研磨仪 ArBlade 50002 参考价面议

牛津仪器Ultim Extreme无窗超级能谱

牛津仪器Ultim Extreme无窗超级能谱 参考价面议

牛津仪器Xplore能谱探测器

牛津仪器Xplore能谱探测器 参考价面议

球差校正扫描透射电子显微镜 HD-2700

专用扫描透射显微镜HD-2700，配备了与德国CEOS GmbH公司(总经理Max Haider先生)共同开发的球差校正仪，显著提高了扫描透射电子显微镜的性能，更适合高级纳米技术研究。由于球差校正系统校正了限制电子显微镜的性能的球差，使其与标准型号显微镜相比，分辨率提高了1.5倍，同时，探针电流提高了10倍。最近，该显微镜还配备了高分辨率镜头和冷场发射电子枪，进一步提高了图像分辨率和电子束能量分辨率。同时，该型号系列还增加了一款不带球差校正的主机配置，可以以后加配球差校正进行升级。 参考价面议

透射电子显微镜HT7800系列

以创新的操作性，满足广泛领域的需求。新一代TEM"RuliTEM"诞生。"RuliTEM"120 kV透射电子显微镜系列，包含配备高衬度透镜，实现大视野、高对比度观察的HT7800和配备同级别分辨率透镜的HT7830。全新操作可应对日常工作。我们将竭诚为您提供质的TEM解析解决方案。 参考价面议

球差场发射透射电子显微镜 HF5000

200 kV相差校正TEM/STEM，平衡了空间分辨率和倾斜、分析性能。通过单极片实现0.078 nm的STEM空间分辨率和高样品倾斜度、高立体角EDX。透射电子显微镜除了延续了日立公司配备的具有扫描透射电子显微镜“HD-2700”的球面像差校正器的功能、自动校正功能，像差校正后的SEM图像和对称Dual SDD技术等特点。还融汇了透射电子显微镜HF系列中所积累的技术。对于包括用户在内的广泛用户，我们提供亚Å级空间分辨率和高分析性能以及更多样化的观察和分析方法。 参考价面议

CAD导航系统 故障分析导航系统 (NASFA)

该导航系统可以将CAD数据的布线和大规模集成电路的设计图形和FIB的观察图像相对应起来。当CAD系统中的坐标位置，样品台就会通过链接移动到相应位置，就可以获得相应位置的SIM图像。同时，CAD数据和SIM图像也可以重叠显示。因此，很容易检查到下层布线的状态，实质上提高了分析的效率，有利于进一步进行修理工作。 参考价面议

微型采样系统

微型采样方法(已在日本和美国取得zhuanli)已在半导体器件分析领域成为一款工具，它正迅速向更小制样方向发展。仅用一小时左右即可获得一个微小样品，以便于STEM分析，其定位精度可达到0.1 µm以下。 参考价面议