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MarSurf VD 280 粗糙度和轮廓测量站
面议MarSurf LD 130 综合性轮廓和表面测量站
面议MarSurf CD 280工业计量仪器
面议MarSurf UD 130 综合性轮廓和表面测量站
面议MarSurf GD 280 粗糙度测量站
面议MarSurf GD 140 粗糙度测量站
面议日立 FT110A X射线荧光镀层厚度测量仪
面议便携式非破坏性工业X射线CT扫描仪NAOMi-CT系列
面议Agilent 8890 气相色谱系
面议Mahr MarSurf M300 C 02移动式粗糙度测量仪
面议Mahr MarSurf LD 260轮廓粗糙度测量仪
面议Mahr MarSurf PS 10便携式粗糙度测量仪
面议1. 配备了半导体探测器,由于有更好的信噪比,能更精确地进行元素分析和薄镀层测量
2. 使用微聚焦管可以测量较小的测量点,但因为其信号量较低,不适合测量十分细小的结构
3. 底部C型开槽的大容量测量舱
4.有弹出功能的快速、可编程XY平台
1. 镀层和合金的材料分析(还适用于薄镀层和低含量成分)
2. 来料检验,生产监控
3. 研究和开发
4. 电子工业
5. 接插件和触点
6. 黄金、珠宝和钟表工业
7. 可以测量数纳米薄的镀层,如印刷线路板和电子元器件上的Au和Pd镀层
8. 痕量元素分析
9. 在有“高可靠性”要求的应用中确定铅(Pb)含量
10. 硬质镀层分析