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MarSurf VD 280 粗糙度和轮廓测量站
面议MarSurf LD 130 综合性轮廓和表面测量站
面议MarSurf CD 280工业计量仪器
面议MarSurf UD 130 综合性轮廓和表面测量站
面议MarSurf GD 280 粗糙度测量站
面议MarSurf GD 140 粗糙度测量站
面议日立 FT110A X射线荧光镀层厚度测量仪
面议便携式非破坏性工业X射线CT扫描仪NAOMi-CT系列
面议Agilent 8890 气相色谱系
面议Mahr MarSurf M300 C 02移动式粗糙度测量仪
面议Mahr MarSurf LD 260轮廓粗糙度测量仪
面议Mahr MarSurf PS 10便携式粗糙度测量仪
面议1. 高级型号仪器,具有常见的所有功能
2. 射线激发量的灵活性,激发量可根据测量面积大小和光谱组成而改变
3. 通过硅漂移探测器,在 > 10万cps(每秒计数率) 的超高信号量下也可以正常工作,而不会出现能量分辨率的降低
4. 极低的检测下限和出色的测量重复度
5. 带有快速、可编程 XY 工作台的自动测量设备
6. 大容量便于操作的测量舱
1. 测量极薄的镀层,例如应用于电子和半导体行业中
2. 痕量分析,例如根据 RoHS、玩具标准、包装标准对有害物质进行检测
3. 进行高精度的黄金和贵金属分析
4. 光伏产业
5. 测量 NiP 镀层的厚度和成分