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日立 FT110A X射线荧光镀层厚度测量仪
面议Agilent 8890 气相色谱系
面议日立 FT150系列 荧光X射线镀层膜厚测量仪
面议Agilent 6470化学分析仪器
面议Agilent 1260 Infinity II Prime 液相色谱仪
面议Intuvo 9000 气相色谱系统
面议990 微型气相色谱系统
面议490 移动式微型气相色谱系统
面议7890B 气相色谱系统
面议1290 Infinity II 分析型液相色谱纯化系统
面议1290 Infinity II 自动制备型 LC/MSD 系统
面议1290 Infinity II HDR-DAD 杂质分析仪系统
面议受控的反应化学过程提供一致、可靠的结果
分离重叠的同质异位素,超越高分辨率 ICP-MS 的能力
极低检测限,甚至对以前难以检测的元素,例如 S、Si、P 均具有的低检测限性能
功能强大的 ICP-MS MassHunter 软件可简化您的工作流程并使方法开发自动化
标准 4 通道反应池气体控制
的母离子/产物离子扫描模式,清除呈现反应过程
用于研究和方法开发的和的 ICP-MS
监测原料化学品和硅片加工清洗液中的低水平超痕量污染物
准确测量低浓度的硫和磷元素,定量分析未知蛋白质和多肽
可对复杂环境、食品和生物样品中亚 50 纳米级别的纳米颗粒进行表征
以更高的准确度测量所有食品样品中的低浓度硒、砷和各种形态的砷