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日立 FT110A X射线荧光镀层厚度测量仪
面议Agilent 8890 气相色谱系
面议日立 FT150系列 荧光X射线镀层膜厚测量仪
面议Agilent 6470化学分析仪器
面议Agilent 1260 Infinity II Prime 液相色谱仪
面议Intuvo 9000 气相色谱系统
面议990 微型气相色谱系统
面议490 移动式微型气相色谱系统
面议7890B 气相色谱系统
面议1290 Infinity II 分析型液相色谱纯化系统
面议1290 Infinity II 自动制备型 LC/MSD 系统
面议1290 Infinity II HDR-DAD 杂质分析仪系统
面议的高盐基质耐受能力 — Agilent 7900 ICP-MS 的稳定等离子体和可选的超耐高盐进样系统 (UHMI) 可帮助您对高达 25% 总溶解固体 (TDS) 含量的样品进行常规测量,其高盐基质耐受能力比传统 ICP-MS 高 100 倍,远远超出了其他任何 ICP-MS。
最宽的动态范围 — 新型正交检测器系统 (ODS) 可提供高达 11 个数量级的动态范围,从亚 ppt 级到百分级浓度,用户可在同一次运行中同时测量痕量与常量元素。
痕量物质检测更胜 — 新型的接口设计和优化的扩展级真空系统提高了离子传输效率,在 < 2% CeO 的条件下可提供 >109 cps/ppm 的灵敏度,ODS 则可提高增益并降低背景,进而提高信噪比。
更快的瞬时信号分析 — 7900 ICP-MS 每秒可完成 10000 次独立测量,可为瞬时信号的准确分析提供极短的积分时间
的易用性 — 一代 ICP-MS MassHunter 软件提供了直观的控制面板设计,配备的小工具可指导您完成每一步分析。只需简单回答几个应用问题,或者对一个典型的样品进行分析,创新的方法设置向导即可自动为您创建方法。您还可以使用远程监控应用程序随时随地监测与控制您的 ICP-MS 仪器,增强了灵活性。
更高的分析效率 — 超耐高盐进样系统 (UHMI) 技术结合可选的集成样品引入系统 (ISIS 3) 以及 ODS,可以在最宽的动态范围内分析并定量几乎任何样品,避免了因产生量程外结果而不得不重新分析所耗费的额外时间及成本。