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日立 FT110A X射线荧光镀层厚度测量仪
面议Agilent 8890 气相色谱系
面议日立 FT150系列 荧光X射线镀层膜厚测量仪
面议Agilent 6470化学分析仪器
面议Agilent 1260 Infinity II Prime 液相色谱仪
面议Intuvo 9000 气相色谱系统
面议990 微型气相色谱系统
面议490 移动式微型气相色谱系统
面议7890B 气相色谱系统
面议1290 Infinity II 分析型液相色谱纯化系统
面议1290 Infinity II 自动制备型 LC/MSD 系统
面议1290 Infinity II HDR-DAD 杂质分析仪系统
面议提高检测限性能 — 高强度 UltrAA 灯可以为您提供超痕量级的检测限。无需额外的供电设备。
性能 — 由电脑控制的磁场强度在 0.1 至 -0.8 特斯拉范围内可变;在测量期间磁场强度保持锁定,限度地降低电源电压浮动的影响。
多功能性 — 为塞曼石墨炉增加VGA适配器,用氢化物发生技术以验证塞曼石墨炉原子吸收结果,具有分析复杂基质的灵活性。
稳定温度区域石墨炉设计为您提供的 ppb 级性能
易于调整 — 仅需单个光源。
校正准确度提高了 11 倍 — 与竞争系统采用的简单线性插值法相比,多项式插值法的准确性更高。
使用 SRM 向导和 Tube-Cam 功能开发分析条件 — 包括干燥、灰化和原子化温度、改进剂、进样量 — 获得灵敏度和干扰消除等。