Mahr MarSurf M 400粗糙度测量仪

Mahr MarSurf M 400粗糙度测量仪

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2023-11-23 18:12:08
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产品简介

产品特征:MarSurfM400.较好的移动设备测量室以及生产领域都越来越需要无导块扫描的表面评估

详细介绍

产品特征:

MarSurf M 400.较好的移动设备

测量室以及生产领域都越来越需要无导块扫描的表面评估。

这通常需要更熟练的操作员,更多时间和更多调整工作。

MarSurf M 400 在“移动表面度量”范围内提供了必要的功能,而且快速、简单易用。

移动和固定测量仪器

粗糙度和波纹度测量

扫描长度高达 26 mm

超过 50 R,W 和 P 表面参数

根据标准自动选择截止和扫描长度

动态校准功能

驱动装置和评估仪器之间可选有线和蓝牙连接 (4 m)

磁性测头支架(独立测头)BFW 250

机动测头归零设置( 7.5 mm)

技术参数:

测量原则

探针法

输入

感应式滑动测头

测量范围 mm

BFW 无导块系统

轮廓分辨率

测量范围 +/- 250 µm:8 nm

测量范围 +/- 25 µm:0.8 nm

过滤器符合 ISO/JIS 标准

ISO 11562 标准高斯滤波

ISO 13565 标准滤波

采样长度数量符合 ISO/JIS

1-5

接触速度

0,2 mm/s; 1,0 mm/s

测量力 (N)

0.75 mN

重量驱动单元

约 0.9 kg

重量测量仪

约 1.0 kg

表面参数

超过 50 种符合当前 ISO / JIS 或 MOTIF (ISO 12085) 标准的表面参数可用于 R-、P- 和 W
轮廓

可选附件

测量立柱:ST-D、ST-F 和 ST-G,测量立柱上的支架

其他附件:CT 120 XY 工作台,平行虎钳,V 形块,用于带 BFW 测头系统的测杆

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