omni高灵敏度Zeta电位及粒度分析仪

omni高灵敏度Zeta电位及粒度分析仪

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具体成交价以合同协议为准
2024-03-09 17:32:15
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北京世纪朝阳科技发展有限公司

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产品简介

Omni多角度粒度与高灵敏度Zeta电位分析仪结合了背向光散射技术与传统动态光散射技术以及硬件PALS(Phase Analysis Scattering,相位分析光散射)技术,拥有13、90与173三个散射角度,突破了传统单角度光散射仪测量的局限性,硬件PALS技术解决了低电泳迁移率体系Zeta电位的精确测量,是一款功能强大的粒度与Zeta电位分析仪。

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