德国Mahr马尔MAROPTO FI 1040 Z FIZEAU 干涉仪

可用于平面和球面40 mm Fizeau 干涉仪

40 mm Fizeau 干涉仪，可用于平面和球面

MarOpto FI 1040 Z 是一款功能强大的干涉仪，可以提供平面和球面以及透射波阵面非接触测量。MarOpto FI 1040 Z 是测量平晶、棱镜和镜头或精密金属工件（包括轴承、密封表面和抛光陶瓷）等光学组件的理想选择。可以通过简单的干涉条纹检测、IntelliPhase 静态空间载波分析或相位调制干涉图分析来执行测量。MarOpto FI 1040 Z 可提供现在的工业应用需要的灵活性和优异的性能。

6x / 3x 缩放，适合MAX直径 1.5 mm 的工件

3 种干涉图分析模式：相移，IntelliPhase – 静态空间载波分析，或条纹跟踪（自动或手动）

尺寸小，方便集成到 OEM 系统。

紧凑耐用的设计

从 F / 0.7 到 F / 6.0 的透射球面

德国Mahr马尔MAROPTO FI 1040 Z FIZEAU 干涉仪应用

小型光学元件的透射和表面测试

光学元件、车削零件、陶瓷、半导体和晶圆的测量

集成曲率半径测量