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DWB半导体低温仪

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2024-07-11 14:41:06: 73

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产品简介

DWB半导体低温仪DWC型冲击试验低温槽是本公司根据GB/T229-2007《金属夏比缺口冲击试验方法》中对低温装置的要求而研制开发的压缩机制冷设备

详细介绍

DWB半导体低温仪

DWC型冲击试验低温槽是本公司根据GB/T229-2007《金属夏比缺口冲击试验方法》中对低温装置的要求而研制开发的压缩机制冷设备。
本设备操作简单方便，无化学污染、无噪音、无振动、无磨损、体积小、重量轻、操作简单、控制精度高、可连续工作等特点，是金属材料低温冲击试验中的的试样冷却、保温设备。同时亦可用于其他低温检测和试验工作。

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