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美国TSI 3330光学颗粒物粒径谱仪 产品特点:
· 0.5微米时粒径分辨率小于5%
· 粒径通道用户可调
· 检测粒径范围:0.3-10微米,最多16通道
· 颗粒物粒径感应范围:0.5至25 mm
· 检测浓度范围:0-3000 个 /cm3
· 彩色触摸屏,直观的用户界面
· 满足ISO 21501-01/04要求
· 输入折射率和密度可以同时显示颗粒物数浓度和质量浓度
· 收集的采样膜可进行称重测量和化学分析
· 电池电量可供20小时的操作
· 最多可存储30000个数据
· 记录每个样品的温度和压力
美国TSI 3330光学颗粒物粒径谱仪 技术参数
测量原则 :
120°光散射和滤膜采样
浓度限制:
3,000个/ cm3 (3,000,000个/L)
质量浓度 :
0.001-275,000 mg/m3
颗粒物粒径:
检测粒径范围:0.3-10 mm
粒径分辨率:0.5mm时5%(符合ISO 21501-01/04)
粒径通道 :最多16通道,用户可调