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AT256 A4全品种集成电路测试仪
面议英国abi-AT256全品种集成电路测试仪
面议SWA512大规模集成电路三维立体动态阻抗V-I-F测试系统
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面议英国ABI-AT192全品种集成电路测试仪
面议英国ABI-LinearMaster手持模拟集成电路测试仪
面议英国ABI-ChipMaster手持数字集成电路测试仪
面议法国CA8334电能质量分析仪
面议法国CA8335电能质量分析仪
面议英国ABI-2400电路板故障检测仪强大的测试功能特点:
1)适合各种类型的测试,模拟及数字集成电路及各种分立器件的测试
英国ABI-2400电路板故障检测仪测试参数:
V-I 测试参数 | |
量测通道: | 24 多任务信道+ 2 实时对比通道 + 2 同步脉冲信号信道 |
信号电压范围: | 2 V to 50 V peak to peak |
电压分辨率: | 8 to 12 bits |
信号频率范围: | 37.5 Hz to 12 kHz |
信号电流范围: | 1 μA to 150 mA |
信号阻抗范围: | 100 Ohm to 1 M |
测试信号波形: | 正弦波,方波,三角波,斜波,脉冲波 |
显示图形模式: | V-I, V-T, I-T |
量测波形自动对比功能: | 可利用实时量测双通道来自动实时对比好坏组件的波形, 或是将波形进行存储之后, 再进行比对工作. |
同步脉冲输出模式: | 正向(Positive), 负向(negative)或双向(bipolar)波形 |
同步信号振幅: | 可调式由 +10 V ~ - 10V |
2400电路板故障检测仪全功能V-I测试模块2400
全功能V-I测试仪
这是一个良好电容器的基本V-I图形,可以利用实时对比通道来进行波形比对,可依比对的相似度来判定是否为故障组件的图形.
可利用实时双信道对比模式来实时比对二点不同通道的波形差异度.可利用此方式来分辩好板坏板上各点量测波形的相似度,进而找到故障的组件.而此方式适合刚入门的检修工程人员来使用.
此模块还提供了二个同步脉波输出信号,可提供MOSFET或门流体的触发信号.而其脉冲宽度, 信号极性及触发角度皆可设置.
功能强大的矩阵扫描式VI曲线量测方式.它可分别依序将各管脚作为一信号的基准点,再对其它的管脚作VI曲线量测.此功能会比一般的VI曲线量测更精准,更快速.
可同时显示多组波形在同一个显示窗内.此方式可同时检视多个通道的比对结果.或是点选放大其中一个波形来进行故障波形分析.
2400电路板故障检测仪V-I 测试能力
量测通道:24 多任务信道+2实时对比通道+2同步脉冲信号信道
标准附件
1x24通道DIL测试夹
VI曲线的定义
V-I曲线测试是一种针对模拟及数字电路且可靠度高的测试方法.其测试方式是透过输出电压信号通过被测组件上所形成的电流信号,而定义出该被测节点的阻抗.
而经由连续的电压-电流信号的变化所产生的阻抗测试数据,将此一连续的测试数据绘制成一曲线,此为被测组件的V-I曲线. 通常可利用已知好的电路板上的V-I曲线,来比对待测的电路板或组件,可达到快速故障诊断的目的.而这项测试技术最主要的优势是在于不需为电路板或组件加电,即可直接进行比对测试.所以,即使是无法动作的电路板也可以进行故障检测工作.