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AT256 A4全品种集成电路测试仪
面议英国abi-AT256全品种集成电路测试仪
面议SWA512大规模集成电路三维立体动态阻抗V-I-F测试系统
面议英国abi_AT256 A4 pro4全品种集成电路筛选测试仪
面议英国abi_AT256 A4 pro2集成电路测试仪
面议SWA1024大规模集成电路三维立体动态阻抗V-I-F测试系统
面议SWA2048大规模集成电路三维立体动态阻抗V-I-F测试系统
面议英国ABI-AT192全品种集成电路测试仪
面议英国ABI-LinearMaster手持模拟集成电路测试仪
面议英国ABI-ChipMaster手持数字集成电路测试仪
面议法国CA8334电能质量分析仪
面议法国CA8335电能质量分析仪
面议功能强大的2500电路板故障检测仪
含模拟器件测试库,可以直接对模拟器件进行参数测试.
测量通道数:24个独立测试通道
驱动输出电压:-12V~+12V
驱动输出电流:200mA
可测量输入电压:±24V
输入阻抗:大于1MΩ
IC测试封装型态:OP放大器/比较器/DACs/ADCs
IC测试方式:在线测试,若工作在OPA工作在线性区, 则可自动计算出放大率(Av)
晶体管测试种类:晶体管/FET/TRIACS/THYRISTOR等
分立元器件测量通道可轻易的让使用者完成分立元器件的测量工作,其内部提供了许多测量方式,可让使用者用于许多类型的分立元器件测试,包含功率型或高增益的分立元器件等.
特点:
适合模拟及数字集成电路的测试.
可进行在线或离线测试与分析.
具有24路测试通道.
安全性高的无电源测量方式.
矩阵式V-I曲线测试,可针对管脚间的阻抗曲线进行测试.
在进行离线测试时,可针对芯片内部进行阻抗分析.
自动对比及储存曲线.
可切换VI,VT及IT三种显示模式,可配合不同功能型式的FET元器件.
可设定同步脉冲信号的宽度,进行可控硅元器件或FET的功能测试.
可进行光电耦合器及继电器元器件的速度功能测试.
具有二组信号源,可输出直流信号,针对光电耦合器及继电器进行稳态测试.
并且显示相似度百分比,具有业界中最多的信号频率文件位,对于故障的查找有相当大的帮助.
测试频率高达到12kHz,非常适合测试电感及高频电容器件.
本系统具备自动信号补偿功能,可针对测试环境及夹具进行自校测试,以防止量测信号失真.
可由软件来进行维修日志的编写.
可由软件加入图片,用来清楚的表示量测位置及电路板样式.
可选择利用USB或PCI通讯接口来进行仪器的操作,也可安装在PC内来节省所占的空间.
英国ABI-2500电路板故障检测仪测试参数:
测量通道: | 24测试通道 |
探笔通道: | 2通道实时对比测试 |
信号通道: | 2通道同步脉冲信号 |
测试电压范围: | 2 V to 50 V peak to peak:2/4/6/8/10/20/30/40/50V |
电压分辨率: | 8 to 12 bits |
测试频率范围: | 37.5 Hz to 12 kHz:37.5/60/75/94/120/150/187.5/240/300/375/480/600 |
信号电流范围: | 1 μA to 150 mA |
测试阻抗范围: | 100Ω to 1MΩ:100Ω、1kΩ、10kΩ、100kΩ、1MΩ |
测试信号波形: | 正弦波、三角波、斜波 |
显示图形模式: | V-I,V-T,I-T |
矩阵测试: | 各个管脚间的VI曲线测试 |
波形自动对比: | 可利用实时量测双通道来自动实时对比好坏组件的波形,或将波形进行存储后,再进行比对. |
同步脉冲输出: | 正向(Positive),负向(negative)或双向(bipolar)波形 |
同步信号振幅: | 可调式由+10V~ -10V |