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AT256 A4全品种集成电路测试仪
面议英国abi-AT256全品种集成电路测试仪
面议SWA512大规模集成电路三维立体动态阻抗V-I-F测试系统
面议英国abi_AT256 A4 pro4全品种集成电路筛选测试仪
面议英国abi_AT256 A4 pro2集成电路测试仪
面议SWA1024大规模集成电路三维立体动态阻抗V-I-F测试系统
面议SWA2048大规模集成电路三维立体动态阻抗V-I-F测试系统
面议英国ABI-AT192全品种集成电路测试仪
面议英国ABI-LinearMaster手持模拟集成电路测试仪
面议英国ABI-ChipMaster手持数字集成电路测试仪
面议法国CA8334电能质量分析仪
面议法国CA8335电能质量分析仪
面议产品概述:
英国abi-3200电路板故障检测仪是abi-3400的简化版。可在静态(非加电)条件下分析器件及整板测试。采用的三维立体V-I-F动态阻抗测试方法, 测量电气信号曲线, 侦测错误/瑕疵问题, 包含内部损坏器件与不一致器件,增加设备检测能力, 同时减少测试时间!
产品组成:
1.软件配置:
1)具有测试流程记忆功能(软件具有强大的测试流程编辑和记录功能)
2)*全面记录各种测试信息。软件可将标准电路板上测量到的V-I-F、V-I和V-T曲线图都存储记录到测试程序中,方便随时与其他电路板进行对比,大大简化了测试中需要重复对比的工作。
3)软件在测试流程中允许用户根据需要加入对测试步骤的文字说明、照片、Office Word、Office Excel、PDF文档、网页链接、视频等,极大提升了测试效率。
4)*中文、英文测试操作软件,提供免费终生软件的升级服务;
2.硬件配置:
1)具有32通道数字V-I动态阻抗测试(可扩充到2048通道)。
2)*具有32路测试V-I-F和V-I测试通道,2路探棒测试,2组同步脉冲。具备变频三维立体V-I-F测量方式,三维立体显示器件的端口特性曲线。可以查找与器件频率有关的故障。三维画面与二维画面可以相互切换,可在二维图面上显示曲线各点的电气参数值(V/I):电压、电流具体数值。扩充到2048路V-I-F测试通道。
3)*系统可对各种器件进行端口测试: V-I、V-T、V-I-F、V-T-F测试。二维V-I测试低达1Hz频率,测试频率高达10kHz, 非常合适测试电感及高频电容器件。可设定同步脉冲信号的幅值与宽度, 进行可控硅元器件或FET的功能测试。
英国abi-3200电路板故障检测仪特点:
静态诊断电路板, 不必外加电源即可进行测试。
检测电路板上受损器件。
可检测出具有泄漏型故障的器件。
可检测出不相同的器件。
将损坏风险降至很低。
通道可扩充至2048路
何谓V/I曲线测试?
对于模拟及数字电路板, V/I曲线测试是成熟、可靠的解决方案。
透过一个限流电阻器, 施加AC电压到一个测试点时, 测量因此产生的电流, 并将结果绘制成一个电压/电流图形, 即显示该测试点的特性曲线。
分析V/I曲线,通常是与一个参考点作比较,而检测如下问题:
漏电流器件。
内部受损器件。
错误数值的器件。
不一致的器件。
短路与开路。
变频扫描方式---增加设备查找问题的范围!
英国abi-3200电路板故障检测仪通过改变V/I信号的AC电压的频率, 而增加设备查找问题的范围, 其产生的曲线, 绘制在一个3D窗口内, 能让使用者观察到整个频率范围上的V/I曲线变化, 进而找到标准V/I分析方法看不见的问题。
矩阵式扫描V/I----- 增加设备查找问题的范围!
abi-3200模块也可使用矩阵式扫描获得V/I曲线, 而增加设备查找问题的范围。在这个模式时, abi-3200模块是在参考所有其它有效管脚(不同于标准V/I测试中只有一个参考管脚)的情形下, 获得一个器件或电路板每个管脚的V/I曲线。如此,便能产生丰富的数据组(一个20脚器件400条曲线), 足以检测出不易查找的故障。
北京金三航科技发展有限公司(英国ABI技术服务中心)提供:
电路板故障检测仪,电路板维修测试仪,电路板测试仪,电路板在线维修测试仪,三维立体动态阻抗测试仪的使用技术培训服务,测试程序开发编译服务。