一般绕线元件于生产检验大多只检验L、C、R、圈数、相位等低压项目，高压项目多只针对不同线圈间或线圈对铁芯或金属外壳之安规耐压进行测试，对于线圈之自体绝缘却因无良好的检验工具而无法检验，而线圈之自体绝缘不良往往是造成线圈于高压使用环境中形成层间短路、跨线短路、出脚短路之根源。其形成原因可能源于初始设计不良、加工制程不良，或绝缘材料之劣化等所引起。

DWX系列即是应提供线圈之自体绝缘状态检验新设计之工具，利用一高压充电之微小电容（测试能量低）与待测线圈形成RLC并连谐振，由谐振之衰减速度(AREA)及局部放电检出(LAPLACIAN)，透过高速且精密的取样处理分析技术，可检验出线圈之绝缘不良，测试简单快速可靠。大尺寸彩色TFT LCD显示，以及全数位设计，使DWX系列不仅适用于生产现场，更可应用于研发，品保分析，可大幅改善绕线元件因自体绝缘造成之潜在不良，提高应用产品之寿命及稳定 。