薄膜厚度测量仪-北京三尼阳光科技发展有限公司手机版

详细介绍

尺寸	190 x 265 x 316 mm
重量	12Kg
类型	手动的
测量样本大小	≤ 4"
测量方法	非接触式
测量原理	反射计
特征	测量迅速，操作简单非接触式，非破坏方式优秀的重复性和再现性用户易操作界面每个影像打印和数据保存功能可测量多达3层可背面反射

活动范围	150 x 120mm(70 x 50mm 移动距离)
测量范围	200Å~ 35㎛(根据膜的类型)
光斑尺寸	20㎛典型值
测量速度	1~2 sec./site
应用领域	聚合体: PVA, PET, PP, PR ... 电解质: 半导体: Poly-Si, GaAs, GaN, InP, ZnS...
选择	参考样品(K-MAC or KRISS or NIST)
探头类型	三目探头
nosepiece	Quadruple Revolving Mechanism with Inward Tilt
照明类型	12V 35W Halogen Lamp Built-in Control Device & Transformer