X-MET7500矿物分析仪具备移动实验室分析功能，在现场就能为各种材料提供快速而可靠的分析，包括痕量元素和轻元素(从镁元素开始)。它的特点是装有一个大面积的硅漂移探测器，能提供快速分析(甚至在测量轻元素时)，同时检测重要金属时检测下限能低至1ppm，从而使采矿和土壤分析得到了大大的优化。

　　在勘探和采矿操作的计划阶段，对该场地的地质情况进行全面了解至关重要。X-MET7500手持分析仪从勘探、矿山制图和品级监控，到环境监控的整个开采过程，展示了其市场的多功能性。

　　坚固耐用的手持式X射线荧光X-MET矿物分析仪大大地节省了分析成本，因为样品基本不需要制备就可以在现场得到快速分析。操作者可轻松快速地用特定样品进行校准，或创建和使用自定义校准设置以满足特定要求，得到的结果具有可信度和完整的可追溯性。检测数据可以结合GPS定位信息，更进一步提高勘探、矿山制图和环境有害物质筛选效率。

　　X-MET7000系列配备了大面积高亮度触摸屏，通过操作人员的配置，可以化合物列表或元素表的形式清晰地显示出分析结果;同时其采用了智能直观的图形用户界面，即便在最严酷的环境下也非常便于学习和操作。

　　X-MET7500矿物分析仪不需要外接电源，一块电池单次充电可以持续使用长达12小时，这就大大减少了到偏远地区需要携带的设备数量。

　　方案优势

　　X-MET7500矿物分析仪具备移动实验室的分析功能，在现场就能为各种材料提供快速而可靠的分析，包括痕量元素和轻元素(从镁元素开始)。它的特点是装有一个大面积的硅漂移探测器，能提供快速分析(甚至在测量轻元素时)，同时检测重要金属时检测下限能低至1ppm，从而使采矿和土壤分析得到了大大的优化。无需昂贵的实验室分析使用现场样品进行快速灵活的自定义校准市场上的启动时间几秒钟就能得到精确的现场分析结果一次充电可工作长达12小时基本不需要样品制备X射线荧光(XRF)分析是一个已经验证过的方法，应用于从勘探、矿山制图和品级监控，到环境监控的整个开采过程。