场发射透射电子显微镜-TEM

厂家：日本电子株式会社

型号：JEM-2100F

技术参数：

1.加速电压：200KV；信息分辨率：0.14nm； 点分辨率：  0.20nm；STEM分辨率：0.2nm；

2.样品倾角：+/-40º；放大倍数：60-1000000；电子枪：Schottly 场发射电子枪。

3.高性能的TEM成像、STEM成像和纳米分析；

4.配备英国Oxford  X-MAX能谱仪 。

应用范围：

1.应用于材料科学、生命科学、医疗、制药、半导体、纳米技术等领域的显微形貌、晶体结构和相组织的观察与分析；

2.各种材料微区化学成分的定性和半定量检测；

3.粉末、纳米粒子形态和粒度测定；

4.复合材料界面特性的研究。

表征项目：

可进行TEM形貌 ，HRTEM高分辨 ，选区电子衍射SAED,  STEM-HADDF暗场像 ， EDX元素定量，  Mapping元素分布 ， 点扫描、 线扫描 。

样品要求：

粉末、液体样都行；样品量：粉末样≥1mg  ，液体样≥1ml 。