扫描电子显微镜
Apreo
功能丰富的高性能 SEM
Apreo 复合透镜设计结合了静电和磁浸没技术，可产生高分辨率和信号选择。这使得 Apreo 成为研究纳米颗粒、催化剂、粉末和纳米器件的研究平台，并且不会降低磁性样品性能。
Apreo 受益于透镜内背散射探测，这种探测提供很好的材料对比度，即使在倾斜、工作距离很短或用于敏感样品时也不例外。新型复合透镜通过能量过滤进一步提高了对比度并增加了用于绝缘样品成像的电荷过滤。可选低真空模式现在的样品仓压力为 500 Pa，可以对要求严苛的绝缘体进行成像。
通过这些优势（包括复合末级透镜、高级探测和灵活样品处理），Apreo 可提供出色的性能和多功能性，帮助您应对未来的研究难题。
Apreo 材料科学应用新的 Apreo 扫描电子显微镜 (SEM) 可对纳米颗粒、金属、复合材料和涂层等多种材料进行检测，并且整合了创新功能，可提供更好的分辨率、对比度和易用性。 - 的复合末级透镜可在任何样品（即使在倾斜时或进行地形测量时）上提供优异的分辨率（1 kV 电压下为 1.0 nm），而无需进行电子束减速。
- 背散射探测 - 始终保证良好的材料对比度，即使以低电压和电子束电流并以任何倾斜角度对电子束敏感样品进行 TV 速率成像时也不例外。
- 探测器 - 可将各个探测器部分提供的信息相结合，获得至关重要的对比度或信号强度。
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体验 Apreo SEM 带来的优势
- 复合末级透镜可在任何样品（即使在倾斜时或进行地形测量时）上提供优异的分辨率（1 kV 电压下为 1.0 nm），而无需进行电子束减速。
- 背散射探测 - 始终保证良好的材料对比度，即使以低电压和电子束电流并以任何倾斜角度对电子束敏感样品进行 TV 速率成像时也不例外。
- 探测器 - 可将各个探测器部分提供的信息相结合，获得至关重要的对比度或信号强度。
- 多种电荷缓解策略，包括样品仓压力为 500 Pa 的低真空模式，可实现任何样品的成像。
- 分析平台：提供高电子束电流，而且光斑很小。样品仓支持三个 EDS 探测器、共面的 EDS 和 EBSD 以及针对分析进行了优化的低真空系
- 样品处理和导航非常简单，具有多用途样品支架和 Nav-Cam+。
