X荧光光谱测厚仪 XTU-BL

产品类型：能量色散X荧光光谱分析仪产品名称：镀层测厚仪产品型号：XTU-BL产品优势：XTU-BL是一款设计结构紧凑，模块精密化程度的镀层测厚仪，C型开槽设计样品腔，让其满足了既可测量超微小样品的检测，同时还可满足超过样品腔尺寸的大工件测量 参考价面议

X荧光光谱测厚仪 XTU-A

产品类型：能量色散X荧光光谱分析仪产品名称：镀层测厚仪产品型号：XTU-A产品优势：XTU-A是一款设计结构紧凑，模块精密化程度的镀层测厚仪，C型开槽设计样品腔，让其满足了既可测量超微小样品的检测，同时还可满足超过样品腔尺寸的大工件测量 参考价面议

X荧光光谱测厚仪 XTU-50B

产品类型：能量色散X荧光光谱分析仪产品名称：镀层测厚仪产品型号：XTU-50B产品优势：XTU-50B是一款设计结构紧凑，模块精密化程度的镀层测厚仪，C型开槽设计样品腔，让其满足了既可测量超微小样品的检测，同时还可满足超过样品腔尺寸的大工件测量 参考价面议

X荧光光谱测厚仪 XTU-50A

产品类型：能量色散X荧光光谱分析仪产品名称：镀层测厚仪产品型号：XTU-50A产品优势：XTU-50A是一款设计结构紧凑，模块精密化程度的镀层测厚仪，C型开槽设计样品腔，让其满足了既可测量超微小样品的检测，同时还可满足超过样品腔尺寸的大工件测量 参考价面议

X荧光光谱测厚仪 XTU-4C

产品类型：能量色散X荧光光谱分析仪产品名称：镀层测厚仪产品型号：XTU-4C产品优势：XTU-4C是一款设计结构紧凑，模块精密化程度的镀层测厚仪，C型开槽设计样品腔，让其满足了既可测量超微小样品的检测，同时还可满足超过样品腔尺寸的大工件测量 参考价面议

德国新帕泰克HELS/RODOS干法激光粒度仪

HELOS/RODOS干法激光粒度仪是一台获得的干法激光粒度仪，实现了“干样干测，湿样湿测，瞬时分散，瞬时测量”的测试理念，RODOS分散系统是世界上能对细达0.1微米的干粉进行分散的系统，开创了激光粒度测试技术的全新里程碑 参考价面议

X荧光光谱测厚仪 XTD-200

产品类型：能量色散X荧光光谱分析仪产品名称：镀层测厚仪产品型号：XTD-200产品优势：XTD-200是一款专用于检测各种异形件，特别是五金类模具、卫浴产品、线路板以及高精密电子元器件表面处理的成分和厚度分析光谱仪 参考价面议

X荧光光谱分析仪 XAU

产品类型：能量色散X荧光光谱分析仪产品名称：光谱分析仪产品型号：XAU产品优势：XAU是一款一机多用型光谱仪，应用了的EFP算法和微光聚集技术，既保留了专用测厚仪检测微小样品和凹槽的膜厚性能，又可满足成分分析 参考价面议

X荧光光谱分析仪 XAD

产品类型：能量色散X荧光光谱分析仪产品名称：光谱分析仪产品型号：XAD产品优势：XAD是一款全元素上照式荧光光谱仪，可测量纳米级厚度、微小样品和凹槽异形件的膜厚，可选配自动平台实现XYZ轴编程位移，实现无人值守多点测量，测量软件置入的EFP算法及解谱技术，解决了诸多业界难题 参考价面议

SPECTROLAB 直读光谱仪

SPECTROLAB直读光谱仪–新一代金属分析的性能的元素灵活性——涵盖15种基体、68种方法、65种元素和210种谱线（不计参考谱线） 参考价面议

SPECTROMAXx 电弧火花直读光谱仪

非常适用于铸造厂材料进出和过程控制（包括氮）的常规分析和精确分析——包括10种基体、65种方法和54种元素，运行成本低，维护需求极少简便的单样本标准化——基于斯派克的智能校准逻辑（iCAL）——平均每天节省30分钟操作轻松、使用简便——简化的操作视图通过专门的工具条按钮提供清晰的选择SPECTROMAXx直读光谱仪主要用于世界各地铸造厂的材料测试，以及金属行业的进出厂检验 参考价面议

SPECTROLAB S火花直读光谱仪

20秒内获得高准确度的结果（例如：低合金钢）定期维护的工作量（火花台清洗）减少8倍元素在低合金钢中平均检测限改善2倍，元素在纯铝中的平均检测限改善5倍仪器的占地面积减少27%单一标样实现整个系统的标准化,此项每天可节省30分钟工作时间作为电弧/火花创新技术的，40多年来，SPECTRO全心投入开发出的发射光谱仪 参考价面议