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MarSurf VD 280 粗糙度和轮廓测量站
面议MarSurf LD 130 综合性轮廓和表面测量站
面议MarSurf CD 280工业计量仪器
面议MarSurf UD 130 综合性轮廓和表面测量站
面议MarSurf GD 280 粗糙度测量站
面议MarSurf GD 140 粗糙度测量站
面议便携式非破坏性工业X射线CT扫描仪NAOMi-CT系列
面议Mahr MarSurf M300 C 02移动式粗糙度测量仪
面议Mahr MarSurf LD 260轮廓粗糙度测量仪
面议Mahr MarSurf PS 10便携式粗糙度测量仪
面议Mahr MarSurf M 400粗糙度测量仪
面议Mahr MarSurf XR 20粗糙度测量仪
面议在过去的25年里,ZEISS PRISMO已经成为了测量实验室内高速扫描和高精度测量的代名词。ZEISS PRISMO是精密测量的参考标准,遵循了ISO质量标准。
在保证测量精度的前提下,可自动配置扫描可使用的更高速度
采用CVP可以以足够的精度显著减少单点测量时间,让测量时间减少25%。
可旋转测头为ZEISS VAST gold增添了灵活性,可搭配ZEISS PRISMO使用。这种创新型探头具有无极旋转角度,非常适合执行需要不同探测角度的测量任务。ZEISS REACH技术地将灵活性与ZEISS VAST gold的高精度、高效相结合。
ZEISS PRISMO配备了蔡司标准的多应用传感器系统(mass)。mass可以在同一台机器上进行接触式和光学测量除了可以测量尺寸、位置和形状外,还可以采用ZEISS ROTOS测头,在同一台CMM上测量粗糙度和波纹度
在批量测量中优化探针更换策略,从传统的“一次一个吸盘”方法,转变为“根据元素使用的探针进行分组,对整个托盘进行测量”,大大缩短了测量时间,从而提高了工作效率并节省了成本。
性能套件包(Performance Package)中 采用的FlyScan和QuickChange技术通 过缩短行进路径确保工作效率,从而节省了40%的时间,并将测量探针组的自动更换耗时缩减到之前的60%。
4 确保获得高精度的结果
使用了ZEISS PRISMO ultra的经验、技术,将E0精度提高了约20%,该测量机集成了:ZERODUR®光栅尺 扩展CAA校正功能
凭借优化的形状测量值,ZEISS PRISMO属于同类产品中性能的机器,绩效指标:同等时间内,MPE_THP比PRISMO提高31%;形状精度指标:MPE_RONt 提高30%
配备80nm分辨率的浮动式ZERODUR® 光栅尺,消除了温度梯度对精度的影响,无需额外的温度传感器。
通过改进的CAA方法,例如校准球的弯曲校正,完善的矢量校准和用于RT测量的专用CAA校正,可以获得的精度,从而确保了形状的精准测量