组合式多功能X射线衍射仪和高分辨率X射线衍射仪广泛应用于各种材料结构分析的各个领域。分析的材料包括：金属材料、无机材料、复合材料、有机材料、纳米材料、超导材料。可以分析的材料状态包括：粉末样品、块状样品、薄膜样品、微区微量样品。广泛应用于粘土矿物、水泥建材、环境粉尘、化工制品、药品、石棉、岩矿、聚合物等研究领域。 高分辨X射线衍射仪为精准研究材料结构而设计,能对样品衍射角度进行精确测量，为得到准确的、可信赖的相分析及结构解析结果奠定坚实的基础。 高分辨X射线衍射仪配置高稳定性X射线源、高性能半导体阵列计数器，可以在相对短的时间内获取准确的的衍射谱图。
样品衍射角度由增量式224位线光栅直接获取，能避免测角仪其它部件对衍射角度的影响，确保仪器在使用寿命内始终获得准确的峰位置。 国际标准样品（Si、Al2O3）全谱范围内所有峰的角度偏差不超过±0.01度。
X射线衍射谱图提供有关样品不同晶相的晶体结构等重要信息。这些信息包括点阵常数、点阵类型、原子替位、晶粒大小和非均匀应力，晶体结构能够逐步通过样品衍射谱图解析。