CST-50冲击式样缺口投影仪

一、用途与特点

夏比冲击试验对于冲击试样缺口要求非常严格，缺口的微小变化，都会引起试验结果出现误差，为保证加工出的冲击试样缺口合格，缺口的加工质量检验是一个非常重要的控制手段。目前用光学投影放大检查是切实可行，并能保证冲击试样缺口质量的方法。本设备是利用光学投影方法，将冲击试样缺口轮廓放大投射到投影屏上，与投影屏上冲击试样V型或U型缺口标准样板图比对，以确定被检测的冲击试样缺口加工是否合格。本设备仅需电源，具有操作简便、检查对比直观、效率高、体积小、便于移动、易维护等优点。

该机是专用于检查夏比V型和U型冲击试样缺口加工质量的专用光学仪器。该仪器是利用光学投影方法将被测的冲击试样V或U型缺口标准样板图比对，以确定被检测的冲击试样缺口加工是否合格，操作简便，检查对比直观、效率高，是目前切实可行、并能保证检查质量的方法，是相关理化试验室的仪器。

二、主要技术参数

1、放大倍数：50×

物镜放大倍率：2.5×

投影物镜放大倍率：20×

2、投影屏直径：Φ200 mm

3、工作台尺寸：

方工作台：（110×125）mm

圆工作台：Φ90 mm

工作台玻璃直径：Φ70 mm

4、工作台行程：

纵向：±10 mm

横向：±10 mm

升降：±12 mm（无刻度）

5、工作台转动范围：0°-360°（无刻度）

6、光源（卤钨灯）：12V 100W

7、电源：220V 150W

8、重量：约20kg