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AT256 A4全品种集成电路测试仪
面议英国abi-AT256全品种集成电路测试仪
面议英国abi-BM8500电路板故障检测仪
面议SWA512大规模集成电路三维立体动态阻抗V-I-F测试系统
面议英国abi_AT256 A4 pro4全品种集成电路筛选测试仪
面议英国ABI-BM8200电路板故障检测仪
面议英国abi_AT256 A4 pro2集成电路测试仪
面议SWA1024大规模集成电路三维立体动态阻抗V-I-F测试系统
面议英国ABI-6500电路板故障检测仪
面议英国ABI-BM8300多功能集成电路及电路板故障诊断系统
面议英国ABI-6400电路板故障检测仪
面议SWA2048大规模集成电路三维立体动态阻抗V-I-F测试系统
面议能够捕捉10/100BASE-TX网络用全双工数据,而经由USB2.0以480Mbps传送到电脑的LAN分析仪。此分析仪主要有用的TAP模式和可在100Mbps线速下生成通信量的数据包生成模式两大功能。
大容量记录,最多250万个数据帧
支持RFC2544标准的测试
确认测试对象机器间的LAN协议和数据
根据时间带确认评价通信量的变化
取得误码频度等网络统计信息
网络负荷测试用的测试数据输出
传送延迟时间等QoS测试
网络通信协议的培训以及教学
便携式LAN分析仪
使用USB总线供电,小于成人手掌大的尺寸,重量约180g,携带方便
各部分说明
通过USB捕捉10/100Mbps的LAN数据包
TAP模式下,使用分析部分的2个端口,在不影响通信的前提下捕捉其内容,经由USB2.0端口输出到电脑。
<TAP模式示意图>
用于时间分析的高精度时间标记
每次接收数据帧时附加最小1μ秒间隔的时间标记。由于使用主机的FPGA处理数据,不受电脑性能左右,正确地测试分析数据的发送和接收时间。 能够将测试数据和时间标记输出到Excel文件。
<窗口画面>
<Excel画面>
只取得特定数据的过滤功能
除了取得所有通信数据外,还可以取得条件的特定通信数据。
过滤条件可MAC或IP地址,协议(ARP/IP/ICMP/IGMP/TCP/UDP/自定义)、IP地址、端口,数据大小(48~2032字节)等。
<过滤功能>
直观的表示通信量
能够直观的表示通信量.各线路使用3条竖线图表表示数据包,使用率以及误码数的比例.
可配合的以太网分析软件
主机可以作为电脑的网络适配器工作,使用Ethereal/Wireshark等分析软件直接控制分析仪,分析捕获的数据。
使用主机内置的FPGA检查网络品质时计算常用的统计信息,使用图表表示时间系列变化,根据端口以统计标格式表示。除了计算数据数,还能以各种误码分类,数据包大小分类,数据冲突类型分类,特殊数据包等详细计数。
误码种类 | TCP Check Sum、IP Check Sum、Alignment Error、Dribble Error, CRC Error, DI Error, Sequence Miss (Series Error) |
---|---|
数据包大小 | 64字节以下、64~127字节、128~255字节、 256~511字节、512~1023字节、1024~1518字节、1518字节以上 |
冲突种类 | 总冲突次数、1次冲突下发送成功的次数、2次以上的冲突下发送成功的次数、16次冲突下传送失败的次数、512比特时间经过后检查出的冲突次数 |
对应VLAN的QoS测试功能
支持从主机端口A到端口B(或者端口B到端口A)的测试数据发送,用来进行网络的QoS测试。可以输出VLAN 的VID (0~4095) 和CoS (0~7) 图表表示的8个测试数据包列,进行丢包和延时等基本QoS测试。
<QoS的测试设置画面>
<QoS的测试画面>
无偿提供RFC 2544标准测试工具RFC-2544(因特网的技术规格)标准的程序软件LE-580FX F2544。
吞吐量
延时
丢包
ack to back(测试缓冲能力)
能够简单的进行上述4个测试。
免费、不做保证以及技术支持。
提供LE-580FX用API
LINEEYE可以提供控制LE-580FX(设备)用的API(BCB、VC语言下)。
利用API用户能够开发自己的程序而控制LE-580FX(设备)。
应用例)
TAP模式下抓取数据包
PG模式下抓取数据包
PG模式下发送数据包
PG模式下进行开关的延迟测试
PG下生成带有多个VLAN tag的数据流
用户使用LE-580FX的API时,我们将认为用户已经同意以下条款。
①我们不对LE-580FX API做任何保证以及技术支持。
②用户使用时造成的损失我们不负任何责任。
③不能够使用在控制LE-580FX以外的用途。
④请勿分发、传递。