使用吉时利4200A-SCS参数分析仪（参数测试仪） 加快各类材料、半导体器件和工艺的开发，完成制程控制、可靠性分析和故障分析。 4200A-SCS是业内性能电学特性半导体参数分析仪，提供同步电流电压曲线测试（IV曲线测试）、电容电压曲线测试（CV曲线测试）和超快脉冲IV曲线测量。

测量、 切换、 重复。

4200A-CVIV 多通道切换模块自动在 I-V 和 C-V 测量之间切换，无需重新布线或抬起探头端部。 与竞争产品不同，四通道 4200A-CVIV 显示器提供本地可视查看，可快速完成测试设置，并在出现意想不到的结果时轻松排除故障。

 特点

无需重新布线即可将 C-V 测量移动到任何设备终端

用户可配置低电流功能

个性化输出通道名称
查看实时测试状态

稳定的低电流测量，适用于 I-V 检定

使用 4201-SMU 和 4211-SMU 模块，您可以在高电容系统中实现稳定的低电流测量。4200A-SCS 有四种型号的源测量单位 (SMU) 可供选择，可通过定制满足您所有的 I-V 测量需求。通过提供现场可安装单元和可选的预放大器模块，Keithley 可确保您获得最准确的低电流测量，而停机时间很少甚至没有。

使用 4201-SMU 和 4211-SMU，通过高测试连接电容进行稳定的低电流测量

特点

不必将仪器送回工厂即可增加 SMU

进行 飞安测量

多达 9 个 SMU 通道

针对长电缆或大卡盘进行了优化

带分析探测器和低温控制器的集成解决方案

4200A-SCS 参数分析仪支持许多手动和半自动晶片探测器和低温控制器，包括 MPI、Cascade MicroTech、Lucas Labs/Signatone、MicroManipulator、Wentworth Laboratories、LakeShore Model 336 低温控制器。

特点

“点击”测试定序

“手动”探测器模式测试探测器功能

假探测器模式无需移除命令即可实现调试

降低成本并保护您的投资
吉时利保障计划以按需服务事件的一小部分成本提供快速、高质量的服务。 只需点击一下或一个电话即可获得维修服务，在此过程中，无需报价或填写采购单，也不会有审批延误。