EDX-600能量色散X射线荧光光谱仪

●美国原装高灵敏电制冷Si(Pin)探测器

●电制冷Si(Pin)探测器 晶体面积15mm2分辨率<155eV
●全数字脉冲处理器技术

●优异的峰背比、的痕量分析灵敏度

● 50KV,50瓦,自防护X-射线管

●多滤光片智能识别技术

●镀层和薄膜测量技术
●高性能，操作简便的XRF软 件
主要特点
●分析元素范围　Cl－Ｕ
●分析元素的浓度范围　ppm—99%
●整机稳定性连续8小时测RSD<0.25%
● RoHS/WEEE检测时间100-120秒
●样品类型： 固体，液体，粉末，镀层及其他..
应用领域：
●应对RoHS & WEEE指令分 析
●各种金属膜厚度测量、工业镀层厚度测量
●卤素指令Cl元素分析
●矿石、原材料成份分析等
●磁性磁性介质和半导体，各种合 金、贵金属成份分析

技术规格