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高分辨率三维计算机断层扫描& 紧凑型数字化X 光透视系统
主要特点:
• 高分辨率三维计算机断层扫描
• 实时高分辨率数字化X光透视
• 纳米级分辨率配置可选
• 5-250 um分辨率
• 大样品尺寸(320 mm x 720 mm)
• 可编程自动控制重复扫描
• 样品位置记忆
• 广泛的应用领域及产品分析
• 铅及钢铁结构，X射线内锁定系统
应用领域
• 计量 • 纤维-复合材料 • 塑料 • 多孔样品 • 其他
