x荧光膜厚测试仪_bowman1、无损分析； 
2、从13号元素到92号元素的快速元素分析、金属镀层厚度检测； 
3、测镀液中zui低含量50g/L的主盐，测定范围Ti22-U92； 
4、检测灵敏度0.01%到100%；镀层0.01um到35um； 
5、可全天候工作，坚固耐用，非实验室人员亦可操作； 
6、测量时间短，每个测量只需10-60秒； 
7、20倍彩色CCD系统用于样品图像观察； 
8、大窗口正比计数器，提高测量稳定性；
9、仪器结构简单，可靠； 
10、FP基本算法；
11、灵活的应用分析软件；

x荧光膜厚测试仪_bowman利用X射线穿透被测材料时，X射线的强度的变化与材料的厚度相关的特性，从而测定材料的厚度，是一种非接触式的动态计量仪器，这种测量方法可以实现连续的实时在线测量。它以PLC和工业计算机为核心，采集计算数据并输出目标偏差值给轧机厚度控制系统，达到要求的轧制厚度。
无论是汽车部件、卫浴器具，还是半导体支架、接插端子、金银首饰，美国bowman公司都一一有理想的仪器去进行测量。美国bowman提供的都是高效率、低成本的测量仪器，它广泛应用于各类电镀工件的镀层测厚及贵重首饰的成色分析，简单易用，维护方便，是节省生产成本的好帮手。